FISCHIONE Inst.
Cryo-Can
SEM için Model 190 Cryo-Can Taramalı elektron mikroskobu (SEM) uygulaması sırasında kontaminasyonu engeller. Cryo-Can soğurken SEM kullanılabilir. Kontaminasyone neden olan ... Detaylar
Electropolisher
    Model 110 Twin-Jet Electropolisher Elektrolitik parlatma veya kimyasal aşındırma Eş zamanlı çift taraflı parlatma Hızlı Yayı kusuruna yol açmaz Kolaylıkla ayarlanabilen akıntı ... Detaylar
Disc Cutter
  Model 170 Ultrasonic Disc Cutter   Minimal mekanik ve termal hasara neden olur. İnce (>10 mikron) veya kalın (<1 cm) numuneler hazırlanabilir. Numuneler her zaman kesme eksenine ... Detaylar
Specimen Ginder
  Model 160 Specimen Ginder Yüksek hassasiyette yüzey parlatma 18 mm çapına kadar örnekler hazırlama   TEM örneklerinin hazırlanmasında ön inceltme işlemi yapar Transmisyon elektron ... Detaylar
Ion mill
  Model 1010 Ion Mill   TEM örnekleri için hassas iyon öğütme/frezeleme ve parlatma sistemi. 0° dan 45° ye kadar öğütme/frezeleme açısı. Bozulmaları engellemek için ... Detaylar
Plasma Cleaner
TEM ve SEM örnelerini ve tutucularını aynı  anda temizler. Gelişmiş görüntüleme ve analitik sonuçlar. Hızlıdır. Kontamisyonu engeller. ... Detaylar
Automated Sample Prep (ASaP) System
      Bir bölmede 5 fonksiyon.   Plasma Cleaning (PC)   Ion Beam Etching (IBE)   Reactive Ion Beam Etching (RIBE)   Reactive Ion Etching (RIE) ... Detaylar
Nanomill
            Çok düşük enerjili iyon kaynağı. Yoğunlaştırılmış iyon demeti. Amorf yapıları ve implant katmanları yok eder. Post-FIB uygulamaları ve ... Detaylar
Advanced Tomography Holder
    Oda sıcaklığında elektron tomografisi için ideal Yüksek tilt açıları Optimize edilmiş numune tutucusu Arttırılmış görüş açısı Kolay, doğru numune ... Detaylar
Ultra-Narrow Gap Tomography Holder
    Room temperature tomography in ultra-high resolution microscopes Extended field of view at high tilt angles Can tilt up to 90º Suitable for ultra-narrow gap (<3mm) pole piece geometries Optimized ... Detaylar
Dual-Axis Tomograpy Holder
Normal 0 false false false MicrosoftInternetExplorer4 /* Style Definitions */ ... Detaylar
On-Axis Rotation Tompgraphy Holder
Accepts either rod-shaped or conically-shaped specimens Ideal for specimens prepared by Focused Ion Beam (FIB) Ideal for Atom Probe Tomography (APT) and Field Ion Microscopy (FIM) specimens ... Detaylar
Annular Dark Field Detector
          Eş zamanlı olarak yüksek açı ADF görüntülemesi ve PEELS Z - kontrastı bilgisi sağlar Yüksek kuantum etkinliği Tek elektron dedeksiyonu Demet yolundan tamamen ... Detaylar
Dimpling Grinder
      Kontrollü inceltme oranı Hassas Kolay kullanılır Otomatik operasyon Hizalama mikroskobu       Ion milling için örnekleri ön inceltme ... Detaylar




 
Tasarım: Para Bilgi Teknolojileri